周富得952221E231017

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Unformatted text preview: 1 行政院國家科學委員會專題研究計畫成果報告 單一批次加工機器考量多評估準則之生產排程研究 計畫編號: NSC 95-2221-E-231 -017 執行期限: 95 年 08 月 01 日至 96 年 07 月 31 日 主持人:周富得 E-mail : fdchou@tpts7.seed.net.tw 執行單位:清雲科技大學 工業工程與管理系 一、中文摘要 此計畫主要係探討單一批次加工機器的生產 排程問題,並以半導體積體電路 (IC) 測試廠預燒製 程作為其主要研究對象。半導體 IC 測試廠的生產 流程大致上包含有:功能測試、預燒、打印、檢腳、 目視檢驗以及最後包裝出貨。其中預燒製程所需的 設備-烤爐 (ovens) 即是典型的批次加工機器,由於 批次加工機器的特性為此機器可以在同一時間內 加工數個工作,所以在實際的預燒作業中操作人員 乃將數個不同的工作放入爐內進行加工,同時由於 不同工作所需加工的時間不盡然相等,不過為了考 量產品品質的因素下,每一批次在爐子內的加工處 理時間會以同一批次內之最大加工時間作為此批 次的加工時間。另外,從整個半導體 IC 測試的生 產流程中,預燒製程所需的加工時間大約 6 至 96 小時,至於其餘相關製程則只需 1 至 2 小時即可完 成,使得預燒製程成為整個製造流程中的瓶頸。因 此,發展一個適當的排程演算法來有效地安排工作 在預燒爐子的加工順序對於整個半導體 IC 測試廠 系統的績效好壞是有極大的影響。 過去在相關的批次加工機台排程文獻中,絕大 多數只探討諸如所有工作完工時間點 (makespan) 最 小化、總流程時間 (total flow time) 最小化或總遲交 時間 (total tardiness) 最小化之單一評估準則的問 題,並且以此評估準則轉成目標函數藉以作為排程 決策的唯一參考依據。然而在一般的實務應用上, 決策者在評估解決方案時卻往往不只參酌一項評 估準則來制訂決策。在這種狀況下,如果仍然倚靠 只考慮單一評估準則模式下所獲得的生產排程計 畫,儘管在此模式下根據此評估準則所獲得的生產 排程計畫是最佳解,但是對於需要考量其他評估準 則的決策目標而言,此生產排程計畫卻是不見得也 會是最佳解,甚至於可能是一組很差的生產排程計 畫。因此在生產排程計畫問題中,同時將多項評估 準則納入一併考量是有其必要性。本計畫係同時考 量機器產能利用率 (utilization) 、在製品存貨水準 (work in process, WIP) 以 及 交 期 績 效 (due date commitment) 等目標下的三項評估準則提出可以獲 得 最 佳 解 的 混 合 整 數 規 劃 模 式 (mixed integer programming model) ,以茲作為驗證與評估求解成 效的基準。由於此問題歸類屬於典型的 NP-Hard 問 題,基於求解效率之因素考量,因此本計畫同時亦...
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This note was uploaded on 11/27/2009 for the course IM MA420 taught by Professor Mar,lee during the Spring '09 term at National Taiwan University.

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