林宏達952221E324034MY2(第1年)

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0 行政院國家科學委員會補助專題研究計畫 期中進度報告 發光二極體 LED 晶粒與透明封裝之外觀瑕疵自動化視覺檢測 計畫類別:■ 個別型計畫 □ 整合型計畫 計畫編號: NSC 95 2221 E 324 034 MY2 執行期間:2006 年 8 月 1 日 至 2007 年 7 月 31 日 計畫主持人:林宏達 共同主持人: 計畫參與人員: 成果報告類型(依經費核定清單規定繳交):■精簡報告 □完整報告 本成果報告包括以下應繳交之附件: □赴國外出差或研習心得報告一份 □赴大陸地區出差或研習心得報告一份 ■出席國際學術會議心得報告及發表之論文各一份( 預計 6 月中旬繳交 ) □國際合作研究計畫國外研究報告書一份 處理方式:除產學合作研究計畫、提升產業技術及人才培育研究計畫、 列管計畫及下列情形者外,得立即公開查詢 □涉及專利或其他智慧財產權,□一年■二年後可公開查詢 執行單位:朝陽科技大學 工業工程與管理系 2007 年 5 月 14 日
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1 發光二極體 LED 晶粒與透明封裝之外觀瑕疵自動化視覺檢測 林宏達 朝陽科技大學 工業工程與管理系 41349 台中縣霧峰鄉吉峰東路 168 Email: [email protected] 摘要 發光二極體 (Light Emitting Diode; LED ) 由於具有低能耗、高效率、 與長壽命的特性,已廣泛使用於現代化電子產品。但是細微瑕疵經常發 生在 LED 的表面封裝上,不僅影響產品外觀也影響發光強度進而損害 產品功能。本研究提出使用自動化視覺系統檢測 LED 之表面瑕疵,為 清楚拍攝 LED 表面瑕疵,視覺系統必須同時依賴 LED 自主光源與外部 光源的輔助擷取影像,此方式對非擴散型 LED 的表面會產生照明不均 勻現象,增加檢測其表面細微瑕疵的困難度。本研究應用二維離散餘弦 轉換 (Discrete Cosine Transformation; DCT ) 將空間域數位影像轉換至離 散餘弦頻率域,並結合灰色理論中灰關聯分析 (Grey Relational Analysis) 技術偵測具較大能量之頻率值位置並將其移除,再還原至空間域,藉由 減弱照明不均勻現象的影響凸顯空間域影像中的細微瑕疵。最後使用簡 單的閥值切割方法即可偵測出細微瑕疵的位置。實驗結果顯示,本研究 所提方法之瑕疵面積偵測率可高達 95% 、瑕疵面積誤判率只有 0.03% 遠優於其他方法。 關鍵詞: LED 封裝,瑕疵檢測,離散餘弦轉換,灰關聯分析,不均勻照明
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2 Automated Visual Defect Inspection of LED Chips and Transparent Encapsulations Hong-Dar Lin* Department of Industrial Engineering and Management Chaoyang University of Technology 168 Jifong E. Rd., Wufong Township, Taichung County 41349, Taiwan (ROC) ABSTRACT Light-emitting diodes (LEDs), owing to their lower power requirements, higher efficiency, and longer lifetimes, are widely used in modern electronic devices. Nevertheless, tiny de-
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This note was uploaded on 11/27/2009 for the course IM MA420 taught by Professor Mar,lee during the Spring '09 term at National Taiwan University.

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