04 fyzikálně chemické zkušební metody

Dal monost elektronov mikroanalzy eds i wds je se kov

Info iconThis preview shows page 1. Sign up to view the full content.

View Full Document Right Arrow Icon
This is the end of the preview. Sign up to access the rest of the document.

Unformatted text preview: odmínkou je, že vlnová délka budicího zá ení musí být kratší (energiov bohatší) než vlnová délka sekundárního zá ení. Intenzita sekundárního (fluorescen ního) zá ení je asi 1000 krát nižší než intenzita primárního zá ení. Na vzduchu lze analyzovat prvky od atomového ísla 22 až po uran. V evakuovaném p ístroji lze stanovovat prvky od atomového ísla 5 (bor). Výhodou metody je relativní rychlost a široká škála stanovovaných prvk . Nevýhodou je vysoká cena p ístroj a vyšší meze stanovitelnosti u stopových prvk . 2.3.1.3 Elektronová mikroanalýza Metoda elektronové mikroanalýzy je vysoce ú inná nedestruktivní fyzikální metoda prvkové analýzy pevných látek. Je založena na interakci dopadajícího svazku urychlených (vysoce energetických) elektron a studovaného vzorku. P ístroje pro tuto metodu, elektronové mikroanalyzátory (mikrosondy), jsou v podstat kombinací ádkovacího elektronového mikroskopu a spektrometr rentgenového zá ení. Obr. 2.8 Schéma elektronové mikrosondy Základním prvkem elektronového mikrosondy je elektronová tryska, která produkuje vysoce urychlené primární elektrony . Ty jsou sadou elektromagnetic23(43) kých o ek a clonek zaost eny na povrch preparátu do plochy o pr m ru pouhých 0,1 – 3 µm. Preparát je nej ast ji dokonale vylešt ný nábrus. Nevodivé materiály je p ed analýzou nutno napa it tenkou vrstvou zlata nebo grafitu pro odvád ní hromadícího se elektrického náboje. Celý p ístroj je vysoce evakuován. P i dopadu primárních elektron na povrch vzorku dochází v d sledku srážek s atomy (resp. s jejich elektronovými obaly) k celé ad jev . ást primárních elektron se pružn odrazí zp t a opustí vzorek s nezm n nou energií (rychlostí). Nazýváme je odražené elektrony. Jiné elektrony se od atom odráží nepružn , to znamená, že atom m p edávají ást své energie a samy postupn energii ztrácí. P i tomto d ji dochází k ionizaci atom a k uvol ování sekundárních elektron . ást elektron , která srážkami ztratila veškerou energii a byla vzorkem pohlcena nazýváme absorbované elektrony. Energie uvoln ná brzd ním primárních elektron zp sobuje ionizaci atom vzorku. Op tné zapl ování uvoln ných energetických hladin elektrony vede ke vzniku rentgenového zá ení o vlnové délce 0,01 až 10 nm, vzácn ji též ke vzniku Augerových elektron a u n kterých materiál též k emisi ultrafialového, viditelného nebo infra erveného sv tla, tzv. katodoluminiscenci. Všechny uvedené jevy lze n jakým zp sobem využít, zde se však spokojíme pouze s popisem nej ast ji používaných aplikací. Sekundární elektrony vznikají pouze ve velice tenké vrstv na povrchu vzorku a jejich množství závisí p edevším na reliéfu povrchu vzorku. Obr. 2.9 Rentgenové zá ení vzniká v oblasti hruškovitého tvaru pod povrchem vzorku To umož uje jejich využití pro zobrazování povrchu vzorku (metoda S...
View Full Document

This note was uploaded on 06/29/2013 for the course CHEMISTRY BC02 taught by Professor Pištěková during the Winter '13 term at Mendel University.

Ask a homework question - tutors are online