04 fyzikálně chemické zkušební metody

Proto se t hmoty jev v odraench elektronech jako sv

Info iconThis preview shows page 1. Sign up to view the full content.

View Full Document Right Arrow Icon
This is the end of the preview. Sign up to access the rest of the document.

Unformatted text preview: r o s o n d a a nalezl své uplatn ní p i lokální analýze pevných materiál . Po pr chodu svazku rentgenových paprsk hmotou je p vodní svazek zeslaben absorpcí. Tento jev je základem rentgenové absorp ní analýzy. Absorbovaná ást se skládá ze dvou podíl . 1. P i zm n sm ru foton dochází ke koherentnímu rozptylu, který je spole n s interferencí zá ení na krystalických látkách základem r e n t g e n o v é difraktometrie. 2. Energie foton p echází v jiné formy - energii elektron uvoln ných ionizací nebo Augerovým6 efektem nebo v energii foton uvoln ných sekundární emisí. Buzení charakteristického spektra fotony rentgenového zá ení je základem 5 Pauliho princip výlu nosti – v atomu nemohou být 2 elektrony, které mají všechny 4 kvantová ísla stejná. 6 Auger v efekt – elektron je vyražen ze slupky a z vyšší slupky p ejde na jeho místo jiný elektron. P itom je vyzá eno kvantum zá ení. 21(43) rentgenové spektrální analýzy sekundární emisí, b žn ozna ované jako r e n t genová fluorescen ní analýza. Ob tyto metody jsou velmi rozší ené i p i analýze stavebních látek. 2.3.1.1 Rentgenová difraktometrie Metody rentgenové strukturní analýzy jsou podmín ny difrak ními jevy na krystalických rovinách zkoumané látky. Jsou-li tyto elementární vlny ve fázi s vlnou v uvažovaném sm ru, s ítají se a výsledná intenzita je zna ná. Pokud vykazují minimální fázový rozdíl, zesílení intenzity nenastane. Obr. 2.7 Difrakce rentgenového zá ení na m ížkových rovinách krystalu K difrakci dochází, pokud je spln na Braggova podmínka n =2d sin ( 2.4) kde n je ád difrakce je vlnová délka zá ení v nm d je vzdálenost sousedních m ížkových rovin je úhel dopadu rentgenového svazku Každá krystalická látka se vyzna uje typickým difraktogramem. Proto je možné p íslušnou slou eninu ur it i ve sm si dalších látek. K registraci difrakcí se asto používá filmu. Z postup za použití filmu je nejznám jší Debye-Scherrerova metoda. Do st edu válcové kom rky je umíst n vzorek v podob prášku umíst ného do kolodiové7 trubi ky. Na vnit ním obvodu kom rky je navinut film. V pr b hu 2-4 hodinové expozice se získá rentgenogram s difrak ními liniemi r zné intenzity. Vyhodnocení difraktogramu spo ívá ve vypo tení vzdáleností m ížkových rovin a intenzit p íslušných difrakcí. Z t chto hodnot pak již stanovíme obsah krystalických složek ve zkoumaném vzorku co do kvality i kvantity. 7 Kolodium je aktivní uhlí 2.3.1.2 Rentgenová fluorescen ní analýza Rentgenová fluorescen ní analýza (“rentgenfluorescence”, RFA, XRFA) se nej ast ji používá pro analýzu hlavních a stopových prvk pevných materiál . Vzorek je t eba ut ít na analytickou jemnost. Poté se z n j p ipraví lisované tablety (pelety) nebo stavené desti ky, které se analyzují. Jako budicí zá ení se používá buzení kvanty rentgenového zá ení nebo rychlými elektrony. P...
View Full Document

This note was uploaded on 06/29/2013 for the course CHEMISTRY BC02 taught by Professor Pištěková during the Winter '13 term at Mendel University.

Ask a homework question - tutors are online