AUTOEVALUACION 1 En qu\u00e9 consiste el test diagn\u00f3stico 2 Mencione la importancia

Autoevaluacion 1 en qué consiste el test

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AUTOEVALUACION 1. En qué consiste el test diagnóstico. 2. Mencione la importancia del test funcional. 3. Cuál es el objetivo del test paramétrico.
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UNIVERSIDAD NACIONAL ABIERTA Y A DISTANCIA – UNAD ESCUELA DE CIENCIAS BÁSICAS, TECNOLOGÍA E INGENIERÍA CONTENIDO DIDÁCTICO DEL CUSO: 299008 – MICROELECTRÓNICA LECCIÓN 3: DISEÑO PARA LA PRUEBA (DFT) ASPECTOS DEL DFT Como ya se ha comentado, y debido al coste del equipamiento, la reducción del tiempo de test de cada componente puede incrementar la productividad ( throughput ), reduciendo el precio de los componentes. En esta sección describiremos las aproximaciones que pueden seguirse desde las primeras fases del proceso de diseño para conseguir esta meta. Consideremos un circuito combinacional como el de la Figura 6.2 (a). La corrección del circuito puede validarse de forma exhaustiva aplicando todas las combinaciones de entrada (2N), lo que lleva asociada una dependencia exponencial con N. La situación empeora con los módulos secuenciales, como el mostrado en la parte (b) de la misma figura; ahora hay que tener en cuenta, no sólo las posibilidades de combinación de entradas, sino también de los estados (2N+M si M es el número de registros de estado). Para darnos una idea de lo que esto significa, la modelización de un microprocesador moderno como una máquina de estados necesita más de 50 registros; si empleáramos un tiempo de test por patrón de 1 μ s, se necesitarían mil millones de años para chequearlo exhaustivamente. Figura 6.2. Dispositivos combinacionales y secuenciales bajo test No siendo posible la introducción exhaustiva de todas las entradas posibles, la aproximación al test de estos circuitos pasa por considerar las siguientes premisas: • La enumeración exhaustiva de patrones de entrada contiene una cantidad sustancial de redundancia; es decir, un fallo simple queda cubierto por múltiples patrones de entrada, de los que basta tomar uno. • Puede conseguirse una reducción sustancial en el número de patrones de entrada relajando la condición de tener que detectar todos los fallos. Los procedimientos típicos de test sólo pretenden una cobertura de fallos entre el 95-99%.
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UNIVERSIDAD NACIONAL ABIERTA Y A DISTANCIA – UNAD ESCUELA DE CIENCIAS BÁSICAS, TECNOLOGÍA E INGENIERÍA CONTENIDO DIDÁCTICO DEL CUSO: 299008 – MICROELECTRÓNICA Bajo estas dos premisas es posible chequear la mayor parte de los bloques combinacionales con un conjunto limitado de vectores de entrada. El problema de los sistemas secuenciales es diferente. El test de una máquina de estados ( FSM – finite state machine ) requiere, no sólo aplicar la excitación de entrada apropiada, sino que ha de ser llevada previamente al estado deseado, lo que a su vez requiere aplicar una secuencia de entradas. Una forma de abordar este problema es convertir la máquina secuencial en combinacional rompiendo la realimentación en el curso del test, lo que constituye uno de los conceptos claves en la metodología scan-test . La otra aproximación es dejar que el circuito se chequee él mismo
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